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隨著電子顯微鏡在生命科學(xué)、材料科學(xué)、地質(zhì)等諸多研究領(lǐng)域的應(yīng)用，對樣品在低溫情況下的形貌特征、相變等成為熱點和不可獲取的手段，通過采用液氦和液氮樣品臺來開展低溫或溫度相關(guān)研究，從而更好地了解您的樣品。冷凍樣品臺的應(yīng)用也進(jìn)一步拓展了各種檢測技術(shù)的應(yīng)用范圍，尤其是電子顯微鏡領(lǐng)域，冷凍樣品臺可以使得不耐輻照、植物樣品等原位觀察和低溫條件下的加工成為可能。SEM冷凍樣品臺是在標(biāo)準(zhǔn)樣品臺的基礎(chǔ)上設(shè)計冷凍模塊、PID溫控模塊及冷卻循環(huán)模塊，無需改造電鏡，在掃描電鏡內(nèi)實現(xiàn)對樣品冷凍，大大減緩...

許多催化反應(yīng)因其反應(yīng)過程不穩(wěn)定，催化活性位點會相應(yīng)地發(fā)生遷移，團(tuán)聚和重構(gòu)等變化。催化劑表面結(jié)構(gòu)、組成及催化活性與反應(yīng)條件密切相關(guān)，因此，在催化反應(yīng)過程中原位識別活性位點十分關(guān)鍵。原位液相透射電子顯微技術(shù)的發(fā)展，使人們可以對液相反應(yīng)過程中催化劑的結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)變過程進(jìn)行原子尺度的直接觀察，并探索催化劑的轉(zhuǎn)變機(jī)理。圖1.Cu2O在不同輻照時間下的HRTEM圖及結(jié)構(gòu)變化示意圖近期，廈門大學(xué)廖洪鋼教授和南京大學(xué)董林教授通過利用自主研發(fā)的原位液相TEM光學(xué)樣品桿與原位液體芯片，實現(xiàn)了TEM原位...

高真空檢漏儀用于對有密封要求的封裝器件進(jìn)行真空檢漏，以便發(fā)現(xiàn)漏孔位置。特別適合于對真空保持有很高要求的器件進(jìn)行檢測，可以確定出器件漏率大小，判斷器件真空壽命。適用原位反應(yīng)艙芯片：自組裝鍵合一體式芯片，加熱芯片，納流體芯片。高真空檢漏儀在將樣品放進(jìn)電鏡前，仔細(xì)檢驗樣品芯片安放是否存在泄露是必要的，這可以提高原位樣品臺的使用效率，保護(hù)透射電鏡。該設(shè)備是專門用于TEM樣品臺真空儲存和密封檢查。它能夠在5min內(nèi)將系統(tǒng)內(nèi)真空度抽至10^(-5)mbar，即TEM內(nèi)的真空環(huán)境。搭配的超...

原位液相電化學(xué)芯片電極采用三電極方式，即工作電極（WE），參比電極（RE）和輔助電極（CE），且電極材料可定制。*的設(shè)計和芯片池內(nèi)的保護(hù)性涂層保證了電學(xué)測量的低噪音和精確性。此外，用戶還可以選擇加熱模塊，實現(xiàn)電熱外場耦合反應(yīng)。TEM液體電化學(xué)樣品桿是在原位液體樣品桿內(nèi)置電化學(xué)模塊，結(jié)合MEMS微加工工藝制備微納原位芯片，可在液體環(huán)境內(nèi)對材料進(jìn)行電化學(xué)反應(yīng)過程中的小電流定量分析和埃米級高時空精度分析。TEM液體電化學(xué)樣品桿的應(yīng)用場合有：1、電池（1）電極表面鋰化和脫鋰的過程（2...

TEM固體熱-電樣品桿是在標(biāo)準(zhǔn)樣品臺基礎(chǔ)上搭建兩電極反饋控溫的加熱模塊、兩電極電學(xué)模塊，在透射電鏡中實現(xiàn)樣品的皮米級高分辨成像。能夠在透射電鏡（TEM）內(nèi)為樣品提供可加熱的氣氛環(huán)境。使得TEM能夠觀察樣品的微觀結(jié)構(gòu)（例如原子結(jié)構(gòu)）在氣氛環(huán)境中的演變過程，以直接揭示樣品結(jié)構(gòu)與其氣固界面反應(yīng)性質(zhì)之間的科學(xué)關(guān)系。可有效提升科研人員科研水平，極大拓展透射電鏡TEM應(yīng)用范圍。加熱模塊：精準(zhǔn)、均勻、安全控溫，溫度精度優(yōu)于0.1K，最高溫度1300℃。通過精確熱場模擬及芯片設(shè)計，實現(xiàn)無漂移...