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透射電鏡液體電化學(xué)原位系統(tǒng)是一種集成了透射電鏡(TEM)技術(shù)與液體電化學(xué)測(cè)試環(huán)境的設(shè)備。本公司提供的透射電鏡液體電化學(xué)原位系統(tǒng)的技術(shù)有：1、采用納流控技術(shù)，通過壓電微控系統(tǒng)進(jìn)行流體微分控制，實(shí)現(xiàn)納升級(jí)微量流體輸送，原位納流控系統(tǒng)及樣品桿中冗余的液體量?jī)H有微升級(jí)別，有效保證電鏡安全。2、采用高分子膜面接觸密封技術(shù)，相比于o圈密封，增大了密封接觸面積，有效減小滲漏風(fēng)險(xiǎn)。3、采用超高溫鍍膜技術(shù)，芯片視窗區(qū)域的氮化硅膜具有耐高溫低應(yīng)力耐壓耐腐蝕耐輻照等優(yōu)點(diǎn)。4、多場(chǎng)耦合技術(shù)，可在液相...

掃描電鏡高溫原位系統(tǒng)通過MEMS芯片對(duì)樣品施加熱場(chǎng)控制，在原位樣品臺(tái)內(nèi)構(gòu)建熱場(chǎng)自動(dòng)控制及反饋測(cè)量系統(tǒng)，結(jié)合EDS、EBSD等多種不同模式，實(shí)現(xiàn)從納米甚至原子層面實(shí)時(shí)、動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)樣品在真空環(huán)境下隨溫度變化產(chǎn)生的微觀結(jié)構(gòu)、相變、元素價(jià)態(tài)、微觀應(yīng)力以及表/界面處的原子級(jí)結(jié)構(gòu)和成分演化等關(guān)鍵信息。應(yīng)用：1、材料科學(xué)研究：用于研究材料在高溫下的力學(xué)性能、變形、斷裂等失效機(jī)制的微觀過程，為新材料的設(shè)計(jì)和優(yōu)化提供重要支持。2、工程材料設(shè)計(jì)：通過實(shí)時(shí)觀察材料在不同應(yīng)力條件下的微觀結(jié)構(gòu)和變化過程...

透射電鏡液體光學(xué)原位系統(tǒng)有高分辨力，能夠清晰地顯示樣品的微觀結(jié)構(gòu)，為科學(xué)研究提供有力的成像支持?？蓮V泛應(yīng)用于電池、電化學(xué)沉積、納米晶生長(zhǎng)、生物材料等領(lǐng)域的研究。通過該系統(tǒng)，科學(xué)家可以深入探究樣品在液體環(huán)境中的微觀結(jié)構(gòu)和化學(xué)變化，為新材料的開發(fā)和性能優(yōu)化提供有力的技術(shù)支持。超新芯提供的透射電鏡液體光學(xué)原位系統(tǒng)具有高安全性：1.市面常見的其他品牌液體樣品桿，由于受自身液體池芯片設(shè)計(jì)方案制約，只能通過液體泵產(chǎn)生的巨大壓力推動(dòng)大流量液體流經(jīng)樣品臺(tái)及芯片外圍區(qū)域，有液體大量泄露的安全隱...

多孔氮化硅TEM載網(wǎng)以高純單晶硅為基底，超薄氮化硅（10~50nm）為支撐膜。這種設(shè)計(jì)不僅確保了載網(wǎng)的高強(qiáng)度和穩(wěn)定性，還使其具有優(yōu)異的電子束穿透性和成像質(zhì)量。多孔氮化硅TEM載網(wǎng)與傳統(tǒng)銅網(wǎng)相比，使用的超薄氮化硅膜不含碳元素，可有效避免積碳，尤其適合球差原子分辨表征。超薄氮化硅膜更耐酸耐高溫，適用于酸性條件下制備樣品，及1000攝氏度的高溫環(huán)境。具有耐電子束輻照，電子束穿透率高，成像背景均勻和噪音小等優(yōu)點(diǎn)。可以在不同分析儀器間轉(zhuǎn)移分析，如TEM，AFM，XRD，EXAFS，Ra...

透射電鏡力電原位系統(tǒng)通過MEMS(微機(jī)電系統(tǒng))芯片在原位樣品臺(tái)內(nèi)構(gòu)建力、電復(fù)合多場(chǎng)自動(dòng)控制及反饋測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)結(jié)合了多種透射電鏡(TEM)的分析模式，以實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品在真空環(huán)境下隨電場(chǎng)、施加力變化產(chǎn)生的微觀結(jié)構(gòu)、相變、元素價(jià)態(tài)、微觀應(yīng)力以及表/界面處的結(jié)構(gòu)和成分演化的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)，能夠?yàn)檠芯考{米尺度材料及器件提供電學(xué)性能分析支撐。透射電鏡力電原位系統(tǒng)的應(yīng)用如下：1.材料科學(xué)：用于研究材料的晶體結(jié)構(gòu)、晶格缺陷、晶界和界面，以及材料的相變和相互作用。這對(duì)于新材料的開發(fā)與性能優(yōu)化具有重要...